SEM EVO 10 VP
Microscopio a Scansione Elettronica che permette l’imaging su scala nanometrica e micrometrica da realizzare su campioni di diversa natura, matrice e composizione. Permette lo studio ad alta risoluzione della morfologia superficiale attraverso l’acquisizione di immagini da elettroni secondari. Lo strumento può operare sia in alto vuoto che a pressione variabile per permettere la suddetta caratterizzazione su materiali sia conduttivi che isolanti.