Microscopio elettronico ZEISS SIGMA 300 FESEM
MICROSCOPIO ZEISS SIGMA 300 - Microscopio elettronico ZEISS SIGMA 300 FESEM (Field Emission SEM) con colonna Gemini, in grado di raggiungere una risoluzione max di 1.2 nm @ 15.0 kV; è dotato di 3 rivelatori per elettroni: a. 1 rivelatore di elettroni secondari "in‐lens" ad alta efficienza, b. 1 rivelatore di elettroni secondari ETSE (Everhart-Thornley Secondary Electrons), c. 1 rivelatore di elettroni retrodiffusi HDBSD a 4 settori indipendenti (High Definition Back Scattered Detector).