Microscopio elettronico ZEISS SIGMA 300 FESEM
MICROSCOPIO ZEISS SIGMA 300 - Microscopio elettronico ZEISS SIGMA 300 FESEM (Field Emission SEM) con colonna Gemini, in grado di raggiungere una risoluzione max di 1.2 nm @ 15.0 kV~ è dotato di 3 rivelatori per elettroni: a. 1 rivelatore di elettroni secondari "in?lens" ad alta efficienza, b. 1 rivelatore di elettroni secondari ETSE (Everhart-Thornley Secondary Electrons), c. 1 rivelatore di elettroni retrodiffusi HDBSD a 4 settori indipendenti (High Definition Back Scattered Detector). E' inoltre presente un sistema di microanalisi con tecnologia SDD (Silicon Drift Detector) Bruker Quantax 200 con raffreddamento LN2-free, caratterizzato da una risoluzione di 129 eV @ 5.9 keV (Mn k-alpha).
QUORUM Q150T - Dispositivo per la deposizione di film sottili conduttivi per la preparazione di campioni destinati all’osservazione con microscopio elettronico ad alta risoluzione. I materiali attualmente disponibili per la deposizione sono Cromo e grafite.